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GB/T 6619-2009 日本語訳【要納期確認】

¥27,200 税込

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説明

 
番号 GB/T 6619-2009
名称(日本語)
名称(中国語) 硅片弯曲度测试方法
名称(英語) Test methods for bow of silicon wafers
状態
中国標準分類号(CCS) H80
国際標準分類号(ICS) 29.045
公布日
発効日 2010/06/01
主管部門 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
帰属組織 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
標準分類
原文ページ数 8
正規価格(税込、円) 35200