説明
| 番号 | GB/T 6624-2009 |
| 名称（日本語） | |
| 名称（中国語） | 硅抛光片表面质量目测检验方法 |
| 名称（英語） | Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection |
| 状態 | |
| 中国標準分類号（CCS） | H80 |
| 国際標準分類号（ICS） | 29.045 |
| 公布日 | |
| 発効日 | 2010/06/01 |
| 主管部門 | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会 |
| 帰属組織 | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
| 標準分類 | |
| 原文ページ数 | 2 |
| 正規価格（税込、円） | 11000 |
